半電波暗室(SAC)和全電波暗室(FAR)檢測(cè)報(bào)告如何辦理？檢測(cè)費(fèi)用與價(jià)格是多少錢呢？檢測(cè)時(shí)間需要多久呢？下面小編為您解答。百檢也可依據(jù)相應(yīng)半電波暗室(SAC)和全電波暗室(FAR)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案。做檢測(cè)，上百檢！我們只做真實(shí)檢測(cè)。
檢測(cè)周期
一般3-15個(gè)工作日，可加急。
檢測(cè)方式
可寄樣檢測(cè)、目測(cè)檢測(cè)、見(jiàn)證試驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)等。
檢測(cè)費(fèi)用
具體根據(jù)檢測(cè)樣品數(shù)量和項(xiàng)目而定。詳情請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目一覽表（參考）
| 序號(hào) | 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) | 檢測(cè)對(duì)象 | 檢測(cè)項(xiàng)目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法規(guī)范 第1-4部分：無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備 輻射騷擾測(cè)量用天線和試驗(yàn)場(chǎng)地 CISPR 16-1-4:2019 Edition 4.0 6.10 | 半電波暗室(SAC)和全電波暗室(FAR) | 全電波暗室的場(chǎng)地衰減偏差 |
| 2 | 無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法規(guī)范 第1-4部分：無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備 輻射騷擾測(cè)量用天線和試驗(yàn)場(chǎng)地 GB/T 6113.104-2016 5.4.7 | 半電波暗室(SAC)和全電波暗室(FAR) | 全電波暗室的場(chǎng)地衰減偏差 |
| 3 | 低壓電子和電器產(chǎn)品射頻噪聲發(fā)射測(cè)量方法，頻率范圍9 kHz～40 GHz ANSI C63.4-2014 附錄 D | 半電波暗室(SAC)和全電波暗室(FAR) | 半電波暗室的場(chǎng)地衰減偏差 |
| 4 | 無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法規(guī)范 第1-4部分：無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備 輻射騷擾測(cè)量用天線和試驗(yàn)場(chǎng)地 CISPR 16-1-4:2019 Edition 4.0 6.6 | 半電波暗室(SAC)和全電波暗室(FAR) | 半電波暗室的場(chǎng)地衰減偏差 |
| 5 | 無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法規(guī)范 第1-4部分：無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備 輻射騷擾測(cè)量用天線和試驗(yàn)場(chǎng)地 GB/T 6113.104-2016 5.4.4 | 半電波暗室(SAC)和全電波暗室(FAR) | 半電波暗室的場(chǎng)地衰減偏差 |
| 6 | 無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法規(guī)范 第1-4部分：無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備 輻射騷擾測(cè)量用天線和試驗(yàn)場(chǎng)地 CISPR 16-1-4:2019 Edition 4.0 7 | 半電波暗室(SAC)和全電波暗室(FAR) | 場(chǎng)地電壓駐波比 |
| 7 | 無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法規(guī)范 第1-4部分：無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備 輻射騷擾測(cè)量用天線和試驗(yàn)場(chǎng)地 GB/T 6113.104-2016 8 | 半電波暗室(SAC)和全電波暗室(FAR) | 場(chǎng)地電壓駐波比 |
| 8 | 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn) GB/T 17626.3-2016 6.2 | 半電波暗室(SAC)和全電波暗室(FAR) | 場(chǎng)均勻性 |
| 9 | 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn) IEC 61000-4-3:2020 Edition 4.0 6.3 6.2 | 半電波暗室(SAC)和全電波暗室(FAR) | 場(chǎng)均勻性 |
| 10 | 工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療設(shè)備 射頻騷擾特性 限值和測(cè)量方法 CISPR 11:2015+A1:2016 Edition 6.1 7.2 | 半電波暗室(SAC)和全電波暗室(FAR) | 背景噪聲 |
以上就是半電波暗室(SAC)和全電波暗室(FAR)檢測(cè)相關(guān)信息，僅供參考，更多檢測(cè)問(wèn)題請(qǐng)咨詢客服。百檢網(wǎng)為您提供一站式的檢測(cè)服務(wù)。檢測(cè)報(bào)告真實(shí)有效。
檢測(cè)流程步驟
溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。
