檢測范圍
微電機器件、半導體器件等。檢測項目
共振疲勞檢測等。檢測周期
一般3-15個工作日出具報告，可加急。微電機器件在生產(chǎn)、使用和研發(fā)等過程中遇到的共振疲勞等問題，研究所檢測中心可以幫客戶進行基于相關技術層面的，有效的分析檢測，提供科學嚴謹公正的檢測數(shù)據(jù)。
參考標準
GB/T 38447-2020 微機電系統(tǒng)(MEMS)技術 MEMS結構共振疲勞試驗方法
JIS C5630-12-2014 半導體器件.微電機器件.第12部分:使用MEMS結構共振的薄膜材料的彎曲疲勞檢測方法
NF C96-050-12-2012 半導體器件 - 微型機電裝置 - 第12部分: 使用MEMS結構共振的薄膜材料的彎曲疲勞檢測方法.
IEC 62047-12-2011 半導體器件.微電機器件.第12部分:使用MEMS結構共振的薄膜材料的彎曲疲勞檢測方法
檢測流程步驟
溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。
