薄膜外延檢測(cè)報(bào)告如何辦理？檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，嚴(yán)格按照薄膜外延檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè)，找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

涉及薄膜 外延的標(biāo)準(zhǔn)有1條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，薄膜 外延涉及到半導(dǎo)體材料。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，薄膜 外延涉及到半金屬。

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于薄膜 外延的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM F374-2000a用單型程序直列式四點(diǎn)探針?lè)y(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層、多晶硅層和離子注入層的薄膜電阻的測(cè)試方法

檢測(cè)流程步驟

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