電磁兼容抗擾度檢測(cè)方法

拿電子設(shè)備來說，其電磁兼容性尤其重要，且電磁兼容抗擾度決定了其在電磁環(huán)境下工作的穩(wěn)定性和安全性。

電磁兼容抗擾度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

1.GB/T 17626電磁兼容系列標(biāo)準(zhǔn)

2.IEC61000系列標(biāo)準(zhǔn)

1.磁場(chǎng)測(cè)試

2.電壓跌落測(cè)試

3.浪涌抗擾度測(cè)試

4.進(jìn)行免疫測(cè)試

5.輻射免疫測(cè)試

6.ESD測(cè)試

7.電快速瞬變測(cè)試

A級(jí)：實(shí)驗(yàn)中技術(shù)性能指標(biāo)正常

B級(jí)：試驗(yàn)中性能暫時(shí)降低，功能不喪失，實(shí)驗(yàn)后能自行恢復(fù)

C級(jí)：功能允許喪失，但能自恢復(fù)，或操作者干預(yù)后能恢復(fù)

R級(jí)：除保護(hù)元件外，不允許出現(xiàn)因設(shè)備（元件）或軟件損壞數(shù)據(jù)丟失而造成不能恢復(fù)的功能喪失或性能降低。

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。

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