檢測(cè)報(bào)告圖片
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檢測(cè)項(xiàng)目及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)一覽表
| 序號(hào) | 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) | 檢測(cè)對(duì)象 | 檢測(cè)項(xiàng)目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.3 | 集成電路模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器 | 增益誤差E<Sub>G |
| 2 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.7 | 集成電路模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器 | 微分線性誤差E<Sub>DL |
| 3 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.14 | 集成電路模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器 | 數(shù)字端輸入漏電流I<Sub>I |
| 4 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.14 | 集成電路模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器 | 數(shù)字輸入高電平電壓V<Sub>IH |
| 5 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.13 | 集成電路模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器 | 數(shù)字輸出低電平電壓V<Sub>OL |
| 6 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.13 | 集成電路模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器 | 數(shù)字輸出高電平電壓V<Sub>OH |
| 7 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.3 | 集成電路模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器 | 滿量程E<Sub>G |
| 8 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.9 | 集成電路模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器 | 電源電流I<Sub>CC（或I<Sub>EE） |
| 9 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.5 | 集成電路模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器 | 線性誤差E<Sub>L |
| 10 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.13 | 集成電路模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器 | 輸出低電平V<Sub>OL |
檢測(cè)時(shí)間周期
一般3-10天出報(bào)告，有的項(xiàng)目1天出報(bào)告，具體根據(jù)集成電路模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器檢測(cè)項(xiàng)目而定。
檢測(cè)報(bào)告有效期
一般集成電路模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。
檢測(cè)流程步驟
1、電話溝通、確認(rèn)需求；
2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià)；
3、郵寄樣品、安排檢測(cè)；
4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋；
5、出具報(bào)告、售后服務(wù)；
6、如需加急、優(yōu)先處理；
溫馨提示：以上關(guān)于《集成電路模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器檢測(cè)》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó)，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。
