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薄膜厚度儀檢測(cè)

檢測(cè)報(bào)告圖片

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薄膜厚度儀檢測(cè)報(bào)告如何辦理?檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),嚴(yán)格按照薄膜厚度儀檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè),找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

涉及薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)有100條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中,薄膜厚度儀涉及到金屬材料試驗(yàn)、表面處理和鍍涂、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、分析化學(xué)、有機(jī)化學(xué)、信息技術(shù)應(yīng)用、涂料和清漆、有色金屬、橡膠和塑料制品、運(yùn)動(dòng)設(shè)備和設(shè)施、罐、聽、管、磁性材料、無損檢測(cè)、陶瓷、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備、麻袋、袋子、非金屬礦。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中,薄膜厚度儀涉及到金屬物理性能試驗(yàn)方法、材料防護(hù)、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、工業(yè)技術(shù)玻璃、有機(jī)化工原料綜合、、涂料、長(zhǎng)度計(jì)量、電子計(jì)算機(jī)應(yīng)用、電工絕緣材料及其制品、貴金屬及其合金、合成樹脂、塑料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、塑料型材、供水、排水器材設(shè)備、包裝材料與容器、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)和通用方法、紙漿與紙板、金屬理化性能試驗(yàn)方法綜合、光學(xué)計(jì)量、金屬無損檢驗(yàn)方法、涂料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、特種陶瓷、數(shù)據(jù)媒體、包裝方法、建材原料礦、。

國家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 40279-2021硅片表面薄膜厚度的測(cè)試光學(xué)反射法

GB/T 36969-2018納米技術(shù)原子力顯微術(shù)測(cè)定納米薄膜厚度的方法

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 38518-2020柔性薄膜基體上涂層厚度的測(cè)量方法

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 36053-2018X射線反射法測(cè)量薄膜的厚度、密度和界面寬度儀器要求、準(zhǔn)直和定位、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和報(bào)告

GB/T 33826-2017玻璃襯底上納米薄膜厚度測(cè)量 觸針式輪廓儀法

GB/T 33399-2016光學(xué)功能薄膜聚對(duì)苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜厚度測(cè)定方法

GB/T 33051-2016光學(xué)功能薄膜表面硬化薄膜硬化層厚度測(cè)定方法

,關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

SIS 18 41 58-1973油漆.由刻度盤指示器線性測(cè)量測(cè)定薄膜厚度

SIS 18 41 59 E-1967色漆、清漆和相關(guān)產(chǎn)品.使用永久磁力表的磁力底座上的薄膜厚度的測(cè)定

中國團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

T/XAI 8-2021覆晶薄膜化錫厚度測(cè)試方法庫侖法

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織,關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

IEC/TR 63258-2021納米技術(shù).評(píng)估納米薄膜厚度的橢偏儀應(yīng)用指南

ISO 16413:2020通過X射線反射法評(píng)估薄膜的厚度 密度和界面寬度 - 儀器要求 對(duì)準(zhǔn)和定位 數(shù)據(jù)采集 數(shù)據(jù)分析和報(bào)告

ISO 19399:2016涂料和清漆.用于測(cè)定薄膜厚度的楔形切割法(劃線法和鉆法)

ISO 16413:2013X射線反射計(jì)用薄膜的厚度、密度和接口寬度的評(píng)估.儀器邀請(qǐng),校準(zhǔn)和定位,數(shù)據(jù)收集,數(shù)據(jù)分析和報(bào)告

ISO 4593-1993塑料制品;薄膜和薄片——用機(jī)械掃描法測(cè)定厚度

ISO 4593:1993塑料 薄膜和薄板 機(jī)械掃描測(cè)定厚度

ISO 4591-1992塑料制品;薄膜和薄片——用重量分析技術(shù)(重量分析厚度)測(cè)定樣品的平均厚度、軋輥的平均厚度和成品率

ISO 4593-1979塑料.薄膜和薄板.機(jī)械掃描法測(cè)定厚度

ISO 4593:1979塑料.薄膜和薄板.機(jī)械掃描測(cè)定厚度

ISO 4591:1979塑料.薄膜和薄板.用重量分析技術(shù)(重量分析厚度)測(cè)定樣品的平均厚度和卷的平均厚度和產(chǎn)量

ISO 4591-1979塑料.薄膜和薄板.用重量分析技術(shù)(重量分析厚度)測(cè)定樣品的平均厚度和卷的平均厚度和產(chǎn)量

ISO 5972-1978云母塊、薄片、薄膜和裂片.厚度測(cè)量

ISO 5972:1978云母塊、薄片、薄膜和劈裂疊層.厚度的測(cè)定

國際電工委員會(huì),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

IEC TR 63258:2021納米技術(shù).用于評(píng)估納米薄膜厚度的橢偏儀應(yīng)用指南

IEC TR 63258-2021納米技術(shù).用于評(píng)估納米薄膜厚度的橢偏儀應(yīng)用指南

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM D8331/D8331M-20用加固光學(xué)干涉法用非破壞性方法測(cè)量薄膜涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D5796-20使用鏜孔裝置通過破壞性方法測(cè)量薄膜線圈涂覆系統(tǒng)的干膜厚度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM D823-18在試驗(yàn)板上生產(chǎn)均勻厚度油漆涂層和相關(guān)產(chǎn)品的薄膜的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM D5796-10用鉆孔裝置進(jìn)行破壞法測(cè)量薄膜涂覆系統(tǒng)的干膜厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E252-06質(zhì)量測(cè)量法測(cè)定箔片、薄板和薄膜厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E252-06(2013)采用質(zhì)量測(cè)量的箔片, 薄板和薄膜厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D4801-050.25mm(0.010英寸)或更大厚度聚乙烯薄膜標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

ASTM E252-05質(zhì)量測(cè)量法測(cè)定薄箔、薄板和薄膜厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E252-04用質(zhì)量測(cè)量法測(cè)定薄箔和薄膜厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D5796-03用鉆孔裝置破壞性測(cè)量薄膜盤繞覆層系統(tǒng)的干膜厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D5796-03(2010)用鉆孔裝置破壞性測(cè)量薄膜盤繞覆層系統(tǒng)的干膜厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D5796-99使用鏜孔裝置通過破壞性方法測(cè)量薄膜線圈涂覆系統(tǒng)的干膜厚度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM E252-84(1999)稱重法測(cè)定薄膜厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D4801-95(2001)0.25mm(0.010英寸)或更大厚度聚乙烯薄膜標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

ASTM D4801-950.25mm(0.010英寸)或更大厚度聚乙烯薄膜標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

ASTM D4801-95(2001)e10.25mm(0.010英寸)或更大厚度聚乙烯薄膜標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 19399:2016涂料和清漆.用于測(cè)定薄膜厚度的楔形切割法(劃線法和鉆法)

BS ISO 16413:2013采用X射線反射計(jì)對(duì)薄膜厚度, 密度和接口寬度的評(píng)估. 儀器要求. 校準(zhǔn)和定位, 數(shù)據(jù)收集, 數(shù)據(jù)分析和報(bào)告

BS EN 15836-1-2010塑料.地面游泳池用增塑聚(氯乙烯)(PVC-P)薄膜.第1部分: 標(biāo)稱厚度等于或大于0.75 mm的同質(zhì)薄膜.

BS EN 15042-1-2006覆層厚度測(cè)量和表面波紋表征.使用激光感應(yīng)表面聲波法測(cè)定薄膜的彈性常數(shù),密度和厚度用指南

BS 5806-1979云母塊、薄片、薄膜和碎片的厚度測(cè)量法

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

DIN SPEC 55661-2013使用超聲波測(cè)量計(jì)測(cè)定涂層薄膜厚度

DIN EN 15836-1-2010塑料.地面游泳池用增塑聚乙烯(氯乙烯)(PVC-P)薄膜.第1部分:標(biāo)稱厚度等于或大于0.75 mm的同質(zhì)薄膜.德文版本EN 15836-1-2010

DIN EN 15836-2-2010塑料.地面游泳池用增塑聚乙烯(氯乙烯)(PVC-P)薄膜.第2部分:標(biāo)稱厚度等于或大于1.5 mm的強(qiáng)化薄膜.德文版本EN 15836-2-2010

DIN EN 13048-2009包裝.鋁軟管.內(nèi)部清漆薄膜厚度測(cè)量方法.英文版本DIN EN 13048-2009-08

PAS 1022-2004檢測(cè)材料及介電材料性質(zhì)以及用橢偏儀測(cè)量薄膜層厚度的參考程序

DIN 55543-1-1986包裝試驗(yàn).塑料袋試驗(yàn)方法.薄膜厚度的測(cè)定

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬,關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

YS/T 839-2012硅襯底上絕緣體薄膜厚度及折射率的橢圓偏振測(cè)試方法

美國通用公司(全球),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

GMW GMW16170-2011薄膜.納米厚度(NT)的預(yù)處理一般質(zhì)量要求.第2次出版(英文版本)

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

NF T54-803-1-2010塑料.埋地型游泳池用增塑聚氯乙烯薄膜(PVC-P).第1部分:大于等于0.75 mm標(biāo)稱厚度的同質(zhì)薄膜

NF T54-803-2-2010塑料.游泳池鋪地用增塑聚氯乙烯(PVC-P)薄膜.第2部分:標(biāo)稱厚度≥1.5 mm的增強(qiáng)薄膜

NF T54-803-2-2007塑料.游泳池鋪地用增塑聚氯乙烯(PVC-P)薄膜.第2部分:標(biāo)稱厚度≥1.5 mm的增強(qiáng)薄膜

NF T54-803-1-2006塑料.游泳池用增塑聚氯乙烯薄膜.規(guī)范和試驗(yàn)方法.第1部分:大于等于0.75mm標(biāo)稱厚度的同質(zhì)薄膜

NF T30-124-1991涂料和清漆 .干性薄膜厚度測(cè)量.磁通量無損測(cè)量法

NF T30-123-1974涂料.干性薄膜厚度的測(cè)定.顯微鏡方法

NF T30-122-1974涂料.干性薄膜厚度的測(cè)定.標(biāo)度量規(guī)法

NF T30-121-1974涂料.干性薄膜厚度的測(cè)定.千分尺測(cè)量法

NF T30-125-1974涂料.濕性薄膜厚度的測(cè)定

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

EN 15836-2-2010塑料.游泳場(chǎng)用增塑聚氯乙烯(PVC-P)薄膜.第2部分:等于或大于1.5mm厚度的增強(qiáng)膜

EN 15836-1-2010塑料.游泳場(chǎng)用增塑聚氯乙烯(PVC-P)薄膜.第1部分:等于或大于0.75mm厚度的同質(zhì)膜

EN 13048-2009包裝.鋁軟管.內(nèi)部清漆薄膜厚度測(cè)量方法

EN 13048-2000包裝.鋁軟管.內(nèi)部清漆薄膜厚度測(cè)量方法

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局,關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

KS C 6111-5-2008利用微波測(cè)定高溫超導(dǎo)薄膜的厚度

KS M ISO 4591:2007塑料.薄片和薄膜.以重量分析技術(shù)(重量分析厚度)測(cè)定試樣的平均厚度和一卷的量和平均厚度

KS M ISO 4593:2002塑料.薄膜和薄板.機(jī)械掃描測(cè)定厚度

美國通用公司(北美),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

GM 9986321-2008薄膜.納米厚度(NT)預(yù)處理通用質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

(美國)福特汽車標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

FORD ESB-M99J344-A-2006*小薄膜厚度38微米的單組分、可印刷、非遮蔽型耐開裂涂料*與標(biāo)準(zhǔn)FORD WSS-M99P1111-A一起使用*

FORD ESB-M99J337-A2-2006*小薄膜厚度為130 MICRO M、與基底面漆相容的可印刷、熱固化、非遮蔽型單組分氨基甲酸酯耐開裂涂料*與標(biāo)準(zhǔn)FORD WSS-M99P1111-A一起使用*.列于標(biāo)準(zhǔn)ESB-M99J337-A上

FORD ESB-M99J337-A-2006*小薄膜厚度為130 MICRO M的可印刷、熱固化、非遮蔽型單組分氨基甲酸酯耐開裂涂料*與標(biāo)準(zhǔn)FORD WSS-M99P1111-A一起使用*

FORD FLTM EU-BQ 010-01-2000陽極化鋁的薄膜厚度測(cè)定

FORD WSB-M4G276-B2-1993紅外輻射預(yù)凝膠型*小薄膜厚度0.25 MM的耐開裂可印刷乙烯基密封劑

FORD WSB-M4G276-C-1990*小薄膜厚度0.25 MM的耐開裂可印刷乙烯基密封劑

國家*用標(biāo)準(zhǔn)-國防科工委,關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

GJB/J 5463-2005光學(xué)薄膜折射率和厚度測(cè)試儀檢定規(guī)程

澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

AS 1580.107.1-2004涂料和相關(guān)材料.試驗(yàn)方法.金屬試驗(yàn)板材的預(yù)處理.干薄膜塊的濕薄膜厚度測(cè)定

AS 1580.108.2-2004涂料和相關(guān)材料.試驗(yàn)方法.干薄膜厚度.涂料檢查量規(guī)

AS/NZS 1580.107.3-1997油漆及類似材料 測(cè)試方法 用量規(guī)測(cè)定濕薄膜厚度

AS/NZS 1580.107.8-1995涂料和相關(guān)材料.試驗(yàn)方法.通過濕薄膜厚度確定油漆使用的推薦分布率

AS/NZS 1580.107.2-1995涂料和相關(guān)材料.試驗(yàn)方法.金屬試驗(yàn)板材的預(yù)處理.濕薄膜塊的濕薄膜厚度測(cè)定

AS/NZS 1580.108.1-1994油漆及類似材料 測(cè)試方法 在金屬底層上用非破壞性方法測(cè)定干薄膜厚度

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

JIS K5600-1-7 ERRATUM 1-2002涂料的試驗(yàn)方法.第1部分:總則.第7節(jié):薄膜厚度的測(cè)定(勘誤1)

JIS K7130-1999塑料.薄膜和片材.厚度測(cè)定

JIS R1636-1998精細(xì)陶瓷薄膜厚度的試驗(yàn)方法.用接觸探針式表面光度計(jì)法測(cè)定薄膜厚度

美國齒輪制造商協(xié)會(huì),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

AGMA 2000FTM5-2000粘度指數(shù)改善劑對(duì)薄膜厚度影響的系統(tǒng)調(diào)查

歐洲航空航天和國防工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

ASD-STAN PREN 4061-1996航空航天系列.25≤a≤64的釬焊厚度25測(cè)微計(jì)用填充金屬中的不定形薄膜.測(cè)微計(jì)尺寸;第P2版

ASD-STAN PREN 4066-1996航空航天系列.釬焊用填料金屬中的厚度為25微米≤a≤100微米的硼化物薄膜尺寸;第P2版

美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于薄膜厚度儀的標(biāo)準(zhǔn)

ANSI INCITS 179-1990信息系統(tǒng).接觸式起止金屬薄膜存儲(chǔ)磁盤.9.5-mm(3.740-in)外徑和25-mm(0.984-in)內(nèi)徑及1.27-mm(0.050-in)厚度的每磁道83333磁通轉(zhuǎn)變次數(shù) 代替ANSI X3.179-1990

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般薄膜厚度儀檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間,不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定,請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容為部分列舉,僅供參考使用。更多檢測(cè)問題請(qǐng)咨詢客服。

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