- N +

GB/T2831-1981光學(xué)零件的面形偏差檢驗(yàn)方法(光圈識(shí)別)

檢測(cè)報(bào)告圖片模板:

檢測(cè)報(bào)告圖片

檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本標(biāo)準(zhǔn)適用于以等厚光波干涉原理檢驗(yàn)球面(包括平面)光學(xué)零部件的面形偏差。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 2831-1981

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng):光學(xué)零件的面形偏差 檢驗(yàn)方法(光圈識(shí)別)

英文名稱(chēng):Surface form deviation of optical elements-Inspection methods

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):作廢

發(fā)布日期:1981-12-25

實(shí)施日期:1982-10-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)(CCS):儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)(ICS):成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備

替代以下標(biāo)準(zhǔn):被GB/T 2831-2009代替

起草單位:新天光學(xué)儀器研究所

歸口單位:全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)總局

標(biāo)準(zhǔn)文檔查詢(xún)及下載

免責(zé)聲明:(更多標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)先聯(lián)系客服查詢(xún)!)

1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)為非營(yíng)利性質(zhì),僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用,使用標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)以正式出版的版本為準(zhǔn)。

2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來(lái)源于網(wǎng)絡(luò),不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性,如因使用文件造成損失,本站不承擔(dān)任何責(zé)任。

3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來(lái)源于網(wǎng)絡(luò),本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問(wèn)題,如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán),請(qǐng)聯(lián)系我們刪除。

返回列表
上一篇:GB/T7341.2-1998聽(tīng)力計(jì)第二部分:語(yǔ)言測(cè)聽(tīng)設(shè)備
下一篇:返回列表