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標準簡介：本標準規(guī)定了用于恒定應(yīng)力壽命試驗和加速壽命試驗的圖估計法的程序。它適用于電子器件產(chǎn)品（以下簡稱產(chǎn)品）的壽命服從威布爾分布，其開頭參數(shù)m>0，特征壽命η>0，位置參數(shù)γ=0的情況。可以用來估計產(chǎn)品壽命特征；判斷整個試驗數(shù)據(jù)是否有異常情況或判斷試驗結(jié)果是否符合數(shù)值分析法的試驗假設(shè)。
標準號：GB 2689.2-1981
標準名稱：壽命試驗和加速壽命試驗的圖估計法(用于威布爾分布)
英文名稱：Life test and acceleration life test charts-Evaluation of their Weibull distributions
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：強制性
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1981-06-22
實施日期：1981-10-01
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子元器件與信息技術(shù)綜合>>L05可靠性和可維護性
國際標準分類號（ICS）：電子學>>31.020電子元件綜合
替代以下標準：替代SJ 1433-1978
起草單位：四機部標準化研究所
歸口單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
發(fā)布單位：國家標準總局
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