標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本文件規(guī)定了光學(xué)對(duì)比度法（包括反射光譜法和光學(xué)圖片法）測(cè)量石墨烯相關(guān)二維材料的層數(shù)的儀器設(shè)備、樣品準(zhǔn)備、測(cè)量步驟、測(cè)試報(bào)告等內(nèi)容。本文件適用于利用機(jī)械剝離法或化學(xué)氣相沉積法(CVD: chemical vapor deposition)制得的晶體質(zhì)量高、橫向尺寸不小于2 μm、層數(shù)不多于5的石墨烯薄片及石墨烯薄膜的層數(shù)測(cè)量。其他方法制得的石墨烯薄片及石墨烯薄膜可參照本文件執(zhí)行。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 40071-2021

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：納米技術(shù) 石墨烯相關(guān)二維材料的層數(shù)測(cè)量 光學(xué)對(duì)比度法

英文名稱(chēng)：Nanotechnologies—Measurement of the number of layers of graphene-related two-dimensional (2D) materials—Optical contrast method

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2021-05-21

實(shí)施日期：2021-12-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：綜合>>計(jì)量>>A50計(jì)量綜合

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：計(jì)量學(xué)和測(cè)量、物理現(xiàn)象>>光學(xué)和光學(xué)測(cè)量>>17.180.30光學(xué)測(cè)量?jī)x器

起草單位：泰州巨納新能源有限公司、東南大學(xué)、泰州石墨烯研究檢測(cè)平臺(tái)有限公司、中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所、哈爾濱工業(yè)大學(xué)(威海)、冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院、江南大學(xué)、華東師范大學(xué)、深圳技術(shù)大學(xué)

歸口單位：全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)納米材料分技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC

發(fā)布單位：國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.