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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用電子背散射衍射法(EBSD)對(duì)拋光截面進(jìn)行平均晶粒尺寸的測(cè)定方法，包含與晶體試樣中的位置相關(guān)的取向、取向差和花樣質(zhì)量因子的測(cè)量要求[1]。注1： 使用光學(xué)顯微鏡測(cè)定晶粒尺寸已為大家普遍接受，與其相比，EBSD具有很多技術(shù)優(yōu)勢(shì)，如高的空間分辨率和晶粒取向的定量描述等。注2： 該方法還可用于一些復(fù)雜材料（如雙相材料）的晶粒尺寸測(cè)量。注3： 對(duì)變形程度較大的試樣進(jìn)行分析時(shí)，需謹(jǐn)慎處理結(jié)果。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 38532-2020
標(biāo)準(zhǔn)名稱：微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測(cè)定
英文名稱：Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2020-03-06
實(shí)施日期：2021-02-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.40化學(xué)分析
起草單位：中國(guó)寶武鋼鐵集團(tuán)中央研究院、上海發(fā)電設(shè)備成套設(shè)計(jì)研究院、中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)
發(fā)布單位：國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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