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GB/T5080.1-2012可靠性試驗第1部分:試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理

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標(biāo)準(zhǔn)簡介:GB/T5080的本部分為可靠性試驗設(shè)計、實施和利用統(tǒng)計方法分析試驗數(shù)據(jù)提供指南。本部分闡述的試驗涉及修理產(chǎn)品和不修理產(chǎn)品,以及檢驗產(chǎn)品是否具有恒定失效強(qiáng)度或失效率。本部分適用于:———當(dāng)根據(jù)合同明確或隱含的要求進(jìn)行可靠性試驗時;———當(dāng)設(shè)計可靠性試驗時;———在可靠性試驗期間;———當(dāng)對可靠性試驗數(shù)據(jù)進(jìn)行分析和編制可靠性試驗報告時。當(dāng)合同或試驗方案指定使用統(tǒng)計方法的國家標(biāo)準(zhǔn),而沒有指定參考特定的標(biāo)準(zhǔn)時,本部分也適用。在一個新產(chǎn)品研制、設(shè)計驗證、設(shè)計定型期間,需要進(jìn)行不同的試驗。這些試驗的目的是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在設(shè)計中存在的缺陷,并且消除這些缺陷,從而提高產(chǎn)品的性能、質(zhì)量、安全性、健壯性、可靠性、可用性,同時降低費(fèi)用。雖然有關(guān)試驗條件、試驗設(shè)計和試驗文件編制等指南均適用于大多數(shù)試驗,但本部分僅涉及使用統(tǒng)計方法分析試驗數(shù)據(jù)的內(nèi)容。盡管本部分對可用性試驗、維修性試驗和可靠性增長試驗有所論述,但因為它們是個十分重要的論題,所以它們在各自的標(biāo)準(zhǔn)中有更為詳細(xì)的介紹:可用性試驗(見GB/T15647—1995),維修性試驗(見GB/T9414(所有部分)),可靠性增長試驗(見GB/T15174—1994、IEC61164:1995)。本部分不包含軟件測試(見IEC61704),但是本部分適用于包含硬件和軟件的產(chǎn)品。因此本部分適用的產(chǎn)品范圍十分廣泛,它包括民品、工業(yè)產(chǎn)品、*品以及航空產(chǎn)品。本部分包含了對驗證、測定、比較以及成功率/失敗率評估的分析,并在第9章中給出了一個進(jìn)行可靠性試驗數(shù)據(jù)統(tǒng)計處理指南的流程圖。本 部分雖然沒有對環(huán)境試驗、加速步進(jìn)應(yīng)力試驗和過應(yīng)力試驗進(jìn)行詳細(xì)描述,但是一些做法和統(tǒng)計工具可用于這些試驗。

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 5080.1-2012

標(biāo)準(zhǔn)名稱:可靠性試驗 第1部分:試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理

英文名稱:Reliability testing - Part 1: Test conditions and statistical test principles

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2012-11-05

實施日期:2013-02-15

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>電子元器件與信息技術(shù)綜合>>L05可靠性和可維護(hù)性

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):03.120.10;03.120.30

替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 5080.1-1986

起草單位:工業(yè)和信息化部電子第五研究所、北京航空工程技術(shù)研究中心

歸口單位:全國電工電子可靠性與維修性標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

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