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GB/T14619-2013厚膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片

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檢測執(zhí)行標準信息一覽:

標準簡介:本標準規(guī)定了厚膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片的要求、測試方法、檢驗規(guī)則、標志、包裝、運輸和貯存。本 標準適用于厚膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片的生產和采購,采用厚膜工藝的片式元件用氧化鋁陶瓷基片也可參照使用。

標準號:GB/T 14619-2013

標準名稱:厚膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片

英文名稱:Alumina ceramic substrates for thick film integrated circuits

標準類型:國家標準

標準性質:推薦性

標準狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2013-11-12

實施日期:2014-04-15

中國標準分類號(CCS):電子元器件與信息技術>>電子設備專用材料、零件、結構件>>L90電子技術專用材料

國際標準分類號(ICS):31.030

替代以下標準:替代GB/T 14619-1993

起草單位:中國電子技術標準化研究院

歸口單位:中國電子技術標準化研究院

發(fā)布單位:國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.

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