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標準簡介：本標準規(guī)定了雙極、MOS、結(jié)型場效應(yīng)半導體集成電路模擬開關(guān)（以下稱為器件）參數(shù)測試方法。 本標準適用于半導體集成電路模擬開關(guān)，也適用于多路轉(zhuǎn)換器參數(shù)的測試。
標準號：GB/T 14028-2018
標準名稱：半導體集成電路 模擬開關(guān)測試方法
英文名稱：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：推薦性
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2018-03-15
實施日期：2018-08-01
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導體集成電路
國際標準分類號（ICS）：電子學>>31.200集成電路、微電子學
替代以下標準：替代GB/T 14028-1992
起草單位：中國航天科技集團公司第九研究院第七七一研究所、圣邦微電子(北京)股份有限公司、西北工業(yè)大學
歸口單位：全國半導體器件標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 78)
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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