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標準簡介：本標準規(guī)定了應(yīng)用掃描電鏡X射線能譜儀（包括裝有X射線能譜儀的電子探針儀）對鍍金制品表面金及金合金單層均勻鍍層成分的非破壞性分析測量方法。本標準適用于表面鍍金及金合金，其鍍層厚度為0.2μm以上，3μm以下范圍內(nèi)的成分測量(不包括基體和金鍍層材料相近的鍍層成分的測量)。
標準號：GB/T 17723-1999
標準名稱：黃金制品鍍層成分的 X 射線能譜測量方法
英文名稱：Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：推薦性
標準狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1999-04-01
實施日期：1999-01-02
中國標準分類號（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
國際標準分類號（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
替代以下標準：被GB/T 17362-2008代替
起草單位：北京有色金屬研究總院
歸口單位：全國微束分析標準化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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