標準簡介：本標準參考了IEC 60333：1993《核儀器 半導體帶電粒子探測器 測試程序》。本標準代替GB/T 13178-1991《金硅面壘型探測器》。本標準規(guī)定了部分耗盡金硅面壘型探測器（簡稱探測器）的產品分類、技術要求、測試方法、檢驗規(guī)則等。本標準適用于部分耗盡金硅面壘型探測器（不包括位置靈敏探測器）。鋰漂移金硅面壘型探測器也可參照執(zhí)行。本標準保留GB/T 13178-1991的大部分內容，對其的主要修改如下：——增加前言；——引用新的規(guī)范性文件；——產品的外形及結構尺寸僅保留A型，刪去原標準的B型和C型；——部分耗盡金硅面壘型探測器的分類僅保留較小耗盡層深度為300μm一類，而主要性能增加“允許較大噪聲”。

標準號：GB/T 13178-2008

標準名稱：金硅面壘型探測器

英文名稱：Partially depleted gold silicon surface barrier detectors

標準類型：國家標準

標準性質：推薦性

標準狀態(tài)：現行

發(fā)布日期：2008-07-02

實施日期：2009-04-01

中國標準分類號（CCS）：能源、核技術>>核儀器與核探測器>>F88核探測器

國際標準分類號（ICS）：能源和熱傳導工程>>27.120核能工程

替代以下標準：替代GB/T 13178-1991

起草單位：中核（北京）核儀器廠

歸口單位：全國核儀器儀表標準化技術委員會

發(fā)布單位：國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.